X线成像原理教学系统
B/S结构，学生机不需任何插件安装即能使用，不限客户端数量。通过调节不同曝光参数（kV、mA、ms等），理解参数与射线的能谱关系（边界吸收限）。系统可测量不同曝光参数下的比释动能（照射剂量）、照射量、平均能量、平均波长等，相应数据可保存为Excel表格；可测量水、铝片、铜片、铅片等四种材料在不同厚度情况下的比释动能（照射剂量）、照射量及相应的半价层，数据同样可保存为Excel表格；还可进行空间分辨率实验，模拟不同曝光参数、不同SID、不同SOD情况下分辨率的变化。
产品规格
| 适用对象 | 医学影像技术、放射物理相关专业 |
| 参数实验 | kV/mA/ms曝光参数与能谱关系(边界吸收限) |
| 剂量测量 | 比释动能、照射量、平均能量、平均波长，可导出Excel |
| 材料测试 | 水/铝/铜/铅四种材料不同厚度下的半价层测量 |
| 分辨率实验 | 模拟不同SID/SOD下空间分辨率变化 |
常见问题
系统能帮助学生理解哪些成像参数关系？
通过调节kV、mA、ms等曝光参数，帮助学生理解参数与X射线能谱关系（边界吸收限）之间的联系。
剂量相关的测量实验具体测什么？
可测量不同曝光参数下的比释动能（照射剂量）、照射量、平均能量、平均波长，数据可导出为Excel表格保存分析。
系统如何进行材料半价层测量实验？
可测量水、铝片、铜片、铅片四种材料在不同厚度下的比释动能、照射量及相应半价层，同样支持数据导出。
空间分辨率实验能模拟哪些条件变化？
可模拟不同曝光参数、不同SID（源像距）、不同SOD（源物距）情况下分辨率的变化规律。
有哪些成功案例？
已服务全国100+所医学院校，包括青海大学、三军医大、贵州医科大学、石家庄医学高等专科学校等知名院校。
